歡迎蒞臨“2011吉時(shí)利新能源與新材料測(cè)試技術(shù)中國(guó)區(qū)巡回研討會(huì)（蘭州.武漢.長(zhǎng)沙.天津）”
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蘭州（查看地圖）
2011年3月22日13:30
藍(lán)寶石大酒店五層金鉆會(huì)議多功能廳
蘭州市城關(guān)區(qū)民主西路37號(hào)
電話：0931-8849999 |
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武漢（查看地圖）
2011年3月29日13:30
武漢華天大酒店四層武漢B廳
武漢市武昌區(qū)徐東大街7號(hào)
電話：027-86728888 |
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長(zhǎng)沙（查看地圖）
2011年4月1日13:30
華天大酒店四層
長(zhǎng)沙市解放東路300號(hào)
電話：0731-84442888 |
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天津（查看地圖）
2011年4月12日13:30
天津日航酒店六層鉆石三廳
天津市和平區(qū)南京路189號(hào)
電話：022-83198888 |
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聯(lián)系方式 |
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楊暉
電話：010-82306119
Email：
[email protected]
[email protected] |
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溫馨提示 |
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1.會(huì)議免費(fèi)、名額有限、報(bào)名從速
2.您的參會(huì)資格以組委會(huì)確認(rèn)為準(zhǔn)
3.研討會(huì)現(xiàn)場(chǎng)憑您本人名片及邀請(qǐng)函入場(chǎng) |
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內(nèi)容簡(jiǎn)介 |
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2011年度吉時(shí)利測(cè)試測(cè)量技術(shù)全國(guó)巡回研討會(huì)將從3月開(kāi)始，在蘭州、武漢、長(zhǎng)沙和天津舉辦。在2010年度吉時(shí)利在成都、重慶、合肥、南京舉辦的該主題巡展研討會(huì)獲得了極大的反響，深受科研工作者與技術(shù)工程師等的歡迎。本屆研討會(huì)我們?cè)俅纹诖c您的交流！ |
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屆時(shí)吉時(shí)利資深技術(shù)專家將與您深入交流如下主要領(lǐng)域的技術(shù)與解決方案: |
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* 綠色電子革命中的光電測(cè)試/新能源測(cè)試方案
* 新材料的測(cè)試方案
* 微弱信號(hào)測(cè)量難點(diǎn)與應(yīng)對(duì)方案
* 多路數(shù)據(jù)采集和高速度/高精度測(cè)試方案 |
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歡迎您提前預(yù)約2011吉時(shí)利新能源與新材料測(cè)試技術(shù)中國(guó)區(qū)巡回研討會(huì) |
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活動(dòng)議程 |
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時(shí) 間 |
主 題 |
演講人 |
主要內(nèi)容 |
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13:30-13:50 |
簽到 |
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13:50-13:55 |
歡迎致辭 |
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13:55-14:45 |
光電測(cè)試/新能源
測(cè)試方案 |
張衛(wèi)華
（Weihua Zhang）
資深應(yīng)用工程師 |
本講座將重點(diǎn)介紹如下典型應(yīng)用：
·介紹光電二極管（LIV）測(cè)試系統(tǒng)，如何利用最新的測(cè)試技術(shù)提高測(cè)試產(chǎn)能并降低測(cè)試成本，確保這些器件的可靠性和質(zhì)量。
·精密太陽(yáng)能測(cè)試解決方案，實(shí)現(xiàn)快速而全面的新型太陽(yáng)能材料特征分析。
·介紹最新LED測(cè)試系統(tǒng)（和外部機(jī)械手如何配合）以實(shí)現(xiàn)更高的準(zhǔn)確度、可靠性和經(jīng)濟(jì)效益。 |
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14:45-15:35 |
新材料的測(cè)試方案 |
王曉
（Nicky Wang）
資深應(yīng)用工程師 |
本講座將介紹如何提高測(cè)試系統(tǒng)對(duì)新材料、器件和工藝進(jìn)行特征分析的能力，輕松實(shí)現(xiàn)DC、I-V、C-V和脈沖測(cè)試測(cè)量，并介紹如下典型應(yīng)用：
·先進(jìn)的納米材料測(cè)試解決方案，最大限度提高您的納米材料特征分析能力。
·討論霍爾效應(yīng)（Hall Effect）測(cè)量主題，如何確定半導(dǎo)體的參數(shù)，例如載流子移動(dòng)性和載流子濃度、霍爾系數(shù)、以及電導(dǎo)率和導(dǎo)電類型。
·脈沖材料測(cè)試
·MOS典型參數(shù)的測(cè)試方法 |
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15:35-15:45 |
中場(chǎng)休息 |
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15:45-16:15 |
微弱信號(hào)測(cè)量難點(diǎn)
與應(yīng)對(duì)方案 |
張衛(wèi)華
（Weihua Zhang）
資深應(yīng)用工程師 |
·該講座將結(jié)合測(cè)試中的實(shí)際問(wèn)題與典型應(yīng)用為您講解如何更準(zhǔn)確的進(jìn)行微弱信號(hào)測(cè)量，幫助您捕獲、分析最微弱的電信號(hào)，解決測(cè)試中常見(jiàn)問(wèn)題與困難。
主要內(nèi)容： 講授進(jìn)行全面的電子測(cè)試并提高測(cè)試產(chǎn)能所必需的基本測(cè)試原理
·如何更加合理的進(jìn)行微弱信號(hào)測(cè)試測(cè)量
·如何應(yīng)對(duì)測(cè)試中常見(jiàn)的問(wèn)題和挑戰(zhàn)，例如如何避免噪聲干擾，減小測(cè)試誤差等
·提高測(cè)試質(zhì)量、獲取更精確數(shù)據(jù)、采集更可靠的測(cè)試結(jié)果的方法和技巧 |
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16:15-16:45 |
多路數(shù)據(jù)采集和高速
度/高精度測(cè)試方案 |
曹剛
（Wayne Cao）
資深應(yīng)用工程師 |
本講座將為您介紹靈活、易拓展的多路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，幫助您提高測(cè)試系統(tǒng)的速度和精度，滿足最靈敏的信號(hào)測(cè)試需求，同時(shí)著重講述如下典型應(yīng)用：
·電源老化測(cè)試系統(tǒng)
·多引腳IC插座測(cè)試系統(tǒng) |
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16:45-17:00 |
問(wèn)答&抽獎(jiǎng) |
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張衛(wèi)華
張衛(wèi)華先生現(xiàn)任吉時(shí)利公司資深應(yīng)用工程師，精密電子工業(yè)市場(chǎng)開(kāi)發(fā)經(jīng)理。在吉時(shí)利工作八年，曾設(shè)計(jì)過(guò)很多工業(yè)測(cè)試系統(tǒng)，具有豐富的測(cè)試測(cè)量經(jīng)驗(yàn)，精通軟硬件的設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)。 |
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活動(dòng)好禮 |
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凡參會(huì)者均可獲得如下為您精心準(zhǔn)備的2011年吉時(shí)利經(jīng)典測(cè)試測(cè)量CD集錦和中文版的低電平測(cè)量手冊(cè)與新版數(shù)據(jù)采集、測(cè)量和控制手冊(cè)！參會(huì)者還有機(jī)會(huì)參加抽獎(jiǎng)獲得獎(jiǎng)品！ |
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2011年吉時(shí)利經(jīng)典測(cè)試測(cè)量CD集錦 |
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2011吉時(shí)利測(cè)試測(cè)量產(chǎn)品目錄CD
囊括了極具應(yīng)用價(jià)值的教程、選型指南以及最新的測(cè)試測(cè)量與數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品的信息 |
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深刻理解電氣測(cè)試測(cè)量指南CD
幫助您分析您的應(yīng)用和各種儀器類型來(lái)解決您的電氣測(cè)試測(cè)量需求 |
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吉時(shí)利I-V和C-V測(cè)量應(yīng)用庫(kù)CD
這張CD為您提供了I-V和C-V測(cè)量分析的多種靈活解決方案 |
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納米測(cè)試技術(shù)庫(kù)CD
幫助您成功進(jìn)行納米級(jí)材料和器件的電氣測(cè)量 |
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如何最大程度利用數(shù)字萬(wàn)用表CD
豐富的技術(shù)信息有助于選擇和正確使用數(shù)字萬(wàn)用表實(shí)現(xiàn)最佳精度和準(zhǔn)確度！ |
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吉時(shí)利測(cè)試測(cè)量手冊(cè) |
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中文版低電平測(cè)量手冊(cè)
憑借微弱信號(hào)測(cè)量領(lǐng)域數(shù)十年的理論和實(shí)踐，吉時(shí)利出版的中文版《低電平測(cè)量手冊(cè)》廣受歡迎，迄今已經(jīng)修訂到第六版。該手冊(cè)完全從測(cè)試的實(shí)際問(wèn)題出發(fā)，涵蓋了精密直流電流、電壓和電阻測(cè)量技術(shù)以及獲得對(duì)小器件的極其精確、靈敏的測(cè)量和對(duì)伏特計(jì)、皮安計(jì)、靜電計(jì)以及高阻/低阻源表的適當(dāng)使用和配置信息。 |
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新版數(shù)據(jù)采集、測(cè)量和控制手冊(cè)
數(shù)據(jù)采集、測(cè)量與控制手冊(cè)介紹了測(cè)試電路的設(shè)計(jì)、軟件程序和一般的測(cè)試和自動(dòng)化系統(tǒng)。涵蓋了數(shù)據(jù)采集和測(cè)量概要、硬件和軟件、基本元件理論、基本的模擬和數(shù)字輸入輸出理論、溫度測(cè)量等并結(jié)合實(shí)例。同時(shí)也是USB模塊、PXI系統(tǒng)以及外部的數(shù)據(jù)采集儀器的選型指南。 |
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