報告承辦單位: 物理與電子科學學院
報告內容: Compact Modeling of Junction Failure in Semiconductor Devices Subject to Electrostatic Discharge Stresses
報告人姓名: 劉俊杰
報告人所在單位: 鄭州大學
報告人職稱/職務及學術頭銜: 教授,博士生導師
報告時間: 2019年12月17日上午10:00
報告地點: 云塘理科樓B413
報告人簡介:
劉俊杰教授于1987年獲得美國佛羅里達大學電子工程專業博士學位。IEEE Fellow,美國佛羅里達大學終身教授,鄭州大學教授。長期致力于半導體器件和集成電路靜電保護的研究,是國際上半導體器件和集成電路ESD領域的權威之一。曾擔任IEEE電子器件協會副主席,獲得IEEE杰出教育獎。近十年來,從美國國家自然科學基金和世界知名半導體企業獲得超過1000萬美元的科研經費,發表論文500多篇,授權美國專利12項。
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