2019年12月17日,應我院邀請,鄭州大學劉俊杰教授為我院師生作了一場題為“Compact Modeling of Junction Failure in Semiconductor Devices Subject to Electrostatic Discharge Stresses”的學術講座。報告會由鄒望輝副教授主持,部分老師、本科生和全體研究生參加了此次講座。
劉俊杰教授已多次來我院進行學術交流,本次劉教授帶來的講座內容與前幾次講座內容是息息相關的,緊承上次講座介紹的靜電保護。本次講座劉教授主要向我們介紹了從靜電放電與破壞的基理開始,再到靜電破壞的建模,最后到模型的應用與未來的前景這幾個部分。重點解說了建模時需要先對仿真模型進行等效電路的分析,確定各個參數值,在建模完成后再進行仿真分析確定器件的魯棒性等性能。講解過程中以自己的親身經歷為例,讓大家深入理解。報告結束后,大家都紛紛向劉教授提問,劉教授也一一進行了解答。報告內容豐富、生動、精彩,讓大家都受益匪淺,報告會取得了圓滿成功。